SEMILAB发射极薄层电阻测量装置SHR-1000 寿命测定装置PV-2000A,寿命测量仪WT-1200,WT-1200B,WT-1200A,4探针薄层电阻测量仪FPP-1000,发射极薄层电阻测量装置SHR-1000,激光椭圆仪LE-103PV

SEMILAB薄膜厚度和电阻率测量装置WMT 光致发光PLl-101/A, PLI-103/A,寿命测量装置WML,WLL,薄膜厚度和电阻率测量装置WMT,WLT,晶体形状测量装置TTR-300,发射极片电阻测量装置CMS,CLS,激光椭圆仪SE-100IL,LE-100IL

电阻率计SEMILAB钢锭缺陷检测装置PLB-55 钢锭缺陷检测装置PLB-55,PLB-55i,电阻率计RT-1000,体积电阻率测量装置RT-110,载流子寿命测定装置WT-2000P,WT-2010D,μPCD载流子寿命测量装置WT-2000PVN

分光椭偏仪SEMILAB在线光谱椭偏仪SE-3000 在线光谱椭偏仪SE-3000,在线光谱椭偏仪μSE-2500,分光椭偏仪SE-2100 (旋转补偿器型),分光椭偏仪SE-2000 (旋转补偿器型),分光椭偏仪SE-2000 (旋转补偿器型),激光椭圆仪LE-5100

错位缺陷可视化装置EnVision SEMILAB 光致发光WT-2000PL,错位缺陷可视化装置EnVision,非接触式迁移率测量LEI-1610系列,FAa lei-1610E100AM,LEI-1610E100R,LEI-1616AM,LEI-1618AM,LEI-1616RP,LEI-1618RP