密封胶断线检查装置清和光学制作所SEIWA

密封胶断线检查装置清和光学制作所SEIWA OPTICAL

密封胶断线检查装置清和光学制作所SEIWA OPTICAL

密封胶断线检查装置，面板贴合错位检测装置，颗粒检查装置，间隔件检查装置，波浪线检测设备

产品介绍

密封胶断线检查装置

检查密封剂和熔块断开情况

通过扫描整个电路板来检查密封件是否破损等。

现在可以实现高精度和高稳定性的检查。

对点胶装置的反馈有助于提高密封应用的准确性。

用途

LCD密封检查、OLED熔块/DAM检查规格检查对象区域：直线段、角部

检查项目：断线、宽度、位置

兼容板尺寸：最大 G10.5

选项：点尺寸/位置检查

面板贴合错位检测装置

面板对位精度检查

TFT基板/CF基板贴合后检查贴合精度。

实现高精度、高稳定性检查 → 重复精度3σ 0.3um 以下

反馈至电路板邦定设备有助于提高邦定精度。

用途

LCD TFT板/CF板面板

贴合后贴合精度检查规格检查对象区域：Sheet Mark、Panel Mark

检查项目：TFT 板/CF 板粘合精度

支持的基板尺寸：最大G10.5

选项：密封宽度检查、点有无检查

颗粒检查装置

在粘合 TFT 基板/CF 基板之前检查工艺中的颗粒状态。

用途

检测FPD板表面颗粒~反映到前道工序的反馈和修复中规格最小检测尺寸：Φ1um ~ (Φ5um, Φ10um, Φ30um)

兼容板尺寸：最大G10.5

间隔件检查装置

间隔件分配完毕后，检查间隔件分配情况。

兼容整个板区域的“整体"测量（宏观检查）和特定区域的“分布"测量（微观检查）。

用途

在粘合 FPD 基板之前测量间隔分布 ~ 反映在对先前过程的反馈和修复中规格兼容垫片尺寸：Φ3um ~

兼容电路板尺寸：最大 G6

波浪线检测设备

检测显示器内用普通显微镜无法观察到的波纹度。

配备特殊可视化技术的检测设备。

用途

用于柔性显示及OLED各制程

检测项目：Wave

Line / Bubble / Scrunch / Particle