SANKO电磁式膜厚计SWT-NEO-F

SANKO电磁式膜厚计SWT-NEO-F

SANKO电磁式膜厚计SWT-NEO-F

电磁式膜厚计SWT-NEO-F，SAMAC-F，多功能电磁式膜厚计CTR-2000V，屏幕处理用电磁式膜厚计SP-3300D，电磁式模拟膜厚计Pro-S，Pro-W，SL-1220C，SL-5P，SL-200E，TL -50，SM-Pen

产品介绍

电磁式膜厚计SWT-NEO-F

特征

测量范围为0到2.5mm宽范围

零和标准调整允许立即测量

SAMAC-F

特征

将探针和主体结合在一起的小膜厚度表。

零和标准调整也很容易通过按钮操作设置。

大型LCD具有可轻松阅读的背光。

屏幕处理用电磁式膜厚计SP-3300D

特征

屏幕过程的高性能，高精度数字膜厚度表。

探针的顶端是平坦的，可以用重量加权，使您可以将其放在测量表面并自由释放，从而产生恒压接触。对于测量各种屏幕，固定（板涂层），其他弹性涂层和未涂层涂层的测量，还可以实现高可重现性。

用途

膜厚度 /屏幕抵抗板厚度 /弹性膜厚度

食物的厚度，例如海藻

电磁式模拟膜厚计Pro-S

特征

传统的模拟仪表

测量厚度的厚度在直觉上可读。它用于许多地点，例如政府机构，测试中心和公司，用作高性能的膜厚度仪表，可用于该领域。

它比紧凑的身体

更为小型。 （90％的体积）此尺寸非常适合在网站上使用。

0-5mm宽范围

它可用于从薄膜涂料到衬里的广泛应用中。

特殊的磁极探针

CVD磁具有高磨损电阻。

表盘盖是

防止由于意外接触而导致调整点转移的标准设备。

*由于温度差异或使用环境，这并不能阻止仪表指南的漂移。