电阻率计SEMILAB钢锭缺陷检测装置PLB-55 钢锭缺陷检测装置PLB-55,PLB-55i,电阻率计RT-1000,体积电阻率测量装置RT-110,载流子寿命测定装置WT-2000P,WT-2010D,μPCD载流子寿命测量装置WT-2000PVN

分光椭偏仪SEMILAB在线光谱椭偏仪SE-3000 在线光谱椭偏仪SE-3000,在线光谱椭偏仪μSE-2500,分光椭偏仪SE-2100 (旋转补偿器型),分光椭偏仪SE-2000 (旋转补偿器型),分光椭偏仪SE-2000 (旋转补偿器型),激光椭圆仪LE-5100

错位缺陷可视化装置EnVision SEMILAB 光致发光WT-2000PL,错位缺陷可视化装置EnVision,非接触式迁移率测量LEI-1610系列,FAa lei-1610E100AM,LEI-1610E100R,LEI-1616AM,LEI-1618AM,LEI-1616RP,LEI-1618RP

SEMILAB寿命测量装置WT-2000MCT 寿命测定装置WT-2000（μPCD载体寿命）,寿命测量装置WT-2000MCT,SPV设备FAaST 310/210 SPV,FAaST 350 DSPV,载流子寿命测定装置WT-2000/2A

非接触式检测SEMILAB晶体缺陷检测装置LST 晶体缺陷检测装置LST系列LST-2100, LST-2500,非接触式晶体缺陷检测装置SIRM系列SIRM-2100,SIRM-2500,SIRM-3000,压力测量仪PSI系列PSI-2100,PSI-2500,PSI-3000